इलेक्ट्रॉनिक मंडल (circuit) आणि प्रणालीच्या अभ्यासात्मक विश्लेषणामध्ये दोन किंवा अधिक विद्युत दाबांची तुलना ही अतिशय महत्त्वाची असते. अशी तुलना एकापेक्षा जास्त दोलनदर्शक वापरून शक्य होते. परंतु अशा वेळी प्रत्येक दोलनदर्शकाच्या व्याप्तीला (sweep) एकाच वेळी सक्रिय करणे कठीण असते. अशा समस्येचे निराकरण करण्यासाठी एक सामान्य आणि कमी खर्चिक पद्धत म्हणून दुहेरी शोध दोलनदर्शक किंवा बहुशोध (multi trace) दोलनदर्शकाचा वापर केला जातो. दुहेरी शोध दोलनदर्शक या पद्धतीमध्ये एकाच इलेक्ट्रॉन किरणाचा वापर दोन स्वतंत्र अनुरेख (trace) तयार करण्यासाठी केला जातो, ज्यास दोन उभ्या स्रोतांकडून स्थानांतरित केले जाते. हे दोन स्वतंत्र स्रोत तयार करण्यासाठी प्रामुख्याने दोन पद्धतींचा वापर केला जातो : (१) वैकल्पिक व्याप्ती/प्रसर्प पद्धत आणि (२) काप (chop) पद्धत. थोडक्यात, दुहेरी शोध दोलनदर्शकाच्या साहाय्याने एकाच वेळी दोन संकेतांचा (signal) अभ्यास करणे सहज शक्य होते.
कार्यप्रणाली : दुहेरी शोध दोलनदर्शकाच्या पडद्यावरती आपण एकाच वेळी दोन संकेतांच्या तरंगांचे निरीक्षण करू शकतो.
(१) दुहेरी शोध दोलनदर्शकामध्ये प्रवाह-१ आणि प्रवाह-२ असे दोन स्वतंत्र प्रविष्ट प्रवाह (channel) असतात. हे प्रवाह स्वतंत्र क्षीणक आणि पूर्व आवर्धक वापरतात.
(२) या व्यवस्थेमुळे स्वतंत्रपणे प्रत्येक प्रविष्ट संकेताचा विस्तार नियंत्रित करणे शक्य होते.
(३) प्रवर्धनानंतर दोन्ही चॅनेल हे इलेक्ट्रॉनिक स्विचला जोडलेले असतात . हा स्विच एकावेळी एक प्रवाह विलंब रेखेद्वारे उभ्या आवर्धकाकडे पाठवतो .
(४) ट्रिगर निवडक स्विच S-2 मंडलाला अ किंवा ब प्रवाहावर किंवा रेखा वारंवारतेवर किंवा बाह्य संकेतावर सक्रिय करण्यास परवानगी देतो.
(५) तरंग आकृती (waveform) स्विच S-2 आणि S-3 मार्गे आडव्या आवर्धकाला दिली जाते.
(६) X -Y स्वरूप (mode) याचा अर्थ म्हणजे दोलनदर्शकामध्ये प्रवाह-अ उभा संकेत(signal) आणि प्रवाह-ब आडवा संकेत म्हणून कार्यरत होतो. या स्वरूपामध्ये अचूक मोजमाप करणे शक्य होते.
(७) समोरच्या चौकट नियंत्रणावर अवलंबून इलेक्ट्रॉनिक स्विच वेगवेगळ्या स्वरूपामध्ये कार्य करू शकते. हे वेगवेगळे स्वरूप म्हणजे वैकल्पिक स्वरूप, काप स्वरूप, प्रवाह-अ फक्त, प्रवाह-ब फक्त, (अ + ब ), (अ – ब) किंवा ( ब- अ) किंवा – (अ + ब ).
दुहेरी शोध दोलनदर्शकाच्या चौकटीवरील नियंत्रणे (panel controls) :
दुहेरी शोध दोलनदर्शकाच्या चौकटीवरील विविध नियंत्रणे खालीलप्रमाणे चार गटांमध्ये विभागली जातात : (१) सामान्य हेतू नियंत्रणे, (२) अनुलंब (आडव्या) विभागात नियंत्रण, (३) क्षैतिज (उभ्या) विभागात नियंत्रण, (४) सक्रिय (trigger) विभागामध्ये नियंत्रण.
(१) सामान्य हेतू नियंत्रणे : या विभागामध्ये प्रामुख्याने पुढील नियंत्रणांचा समावेश होतो : विद्युत पुरवठा चालू /बंद, तीव्रता नियंत्रण, केंद्रित (focused) नियंत्रण, शोध परिभ्रमण (trace rotation), प्रमाणीकरण (calibration).
(२) अनुलंब (आडव्या) विभागात नियंत्रण : या विभागामध्ये प्रामुख्याने पुढील नियंत्रणांचा समावेश होतो : प्रविष्ट संयोगक (input connector), वोल्ट /विभाग (Volt/Division), प्रविष्ट जोडणी (input coupling), उभी स्थिती नियंत्रण, उभे स्वरूप निवडक (Vertical mode selector).
(३) क्षैतिज (उभ्या ) विभागात नियंत्रण : या विभागामध्ये प्रामुख्याने पुढील नियंत्रणांचा समावेश होतो : कालावधी नियंत्रण (Time/Division), आडवी स्थिती नियंत्रण, व्याप्ती स्वरूप (sweep mode) नियंत्रण.
(४) सक्रिय (trigger) विभागामध्ये नियंत्रण : या विभागामध्ये प्रामुख्याने पुढील नियंत्रणांचा समावेश होतो : सक्रिय स्रोत (trigger source), सक्रिय पातळी, सक्रिय उतरण (trigger slope), जोडणी (coupling).
दुहेरी शोध दोलनदर्शकाची ठराविक वैशिष्ट्ये (typical specifications) :
१. कमाल संवेदनशीलता: ५ मिलिवोल्ट/विभाग(Milivolt/Division).
२. बँडविड्थ: १५ मेगाहर्ट्झ.
३ .प्रविष्ट अवरोध : १ मेगाओहम/३५ पिकोफॅरड.
४. कमाल मूल्यांकित प्रविष्ट विद्युत दाब : ४०० वोल्ट.
५. निंदित काळ (time based): ०.२ मायक्रो सेकंद/विभाग ते ०.५ सेकंद/विभाग (योग्य पर्यायामध्ये).
६. सक्रिय स्रोत (trigger source):चॅनेल अ , चॅनेल ब, बाह्य, रेखा.
७. प्रदर्शन स्वरूप (display mode): वैकल्पिक, काप (chop),चॅनेल-अ फक्त, चॅनेल-ब फक्त, (अ + ब ),(अ – ब).
८. कॅथोड किरण नलिकेचे एकूण मोजण्याचे क्षेत्र : ८ × १० विभाग (१ विभाग = १० सेंटिमीटर ).
९ .विद्युत पुरवठा : २३० वोल्ट ,सिंगल फेज ,५० हर्ट्झ.
१०. ऊर्जा : ३० वोल्ट अँपिअर.
संदर्भ :
- Bakshi, A.V. Bakshi, K.A. Electronic measurement systems, Technical Publications, Pune.
- Bakshi, A.V.; Bakshi, K.A.; Bakshi, U. A. Electronic measurements and instrumentation, Technical Publications, Pune.
- Chattopadhyay, D.; Rakshit, P. C. Electronics fundamentals and applications, New Age International Publishers.
- Kishor, K. L. Electronic measurement and instrumentation, Pearson Publications.
- Rasal, A.M. Basic Electronics, Sai Publications, Kolhapur.
- Swahney, A.K. Electrical and electronic measurements and instrumentation, Dhanpat Rai & Co.
समीक्षक – योगेश मांडके